Powered by Made-in-China.com
Mikroskop Stereo Multifungsi untuk Analisis Wafer Semikonduktor
US$85.000,00
1 Atur
US$80.000,00
2+ Set
Spesifikasi produk
model lensa laser
rentang lensa laser/μm
resolusi sumbu-z/nm
Profil produk
Kustomisasi
TersediaLayanan purna jual
dukungan video onlineGaransi
1 tahunTidak. Model.
KC-X3000Tipe
StereomMicrosoftMobilitas
DesktopEfek stereoskopik
Efek stereoskopikJenis Sumber Lampu
LaserPenggunaan
Penelitian Biomedis, Analisis Ilmu Material, Inspeksi Industri & Perakitan, Pendidikan & Penjangkauan, Identifikasi Forensik & Yudisial, Gemologi & Mineralogi, industriPrinsip
OptikPrinsip Optik
Mikroskop Kontras interferensi Diferensialfokus rentang gerakan sumbu z
100-mmfokus mode penggerak sumbu z
motormengukur resolusi kamera
1200Wmengukur maksimum fps kamera
28fpscpu
intel i7memori internal
32gbstore
ssd 1tbresolusi tampilan
3840×2160ukuran tampilan
27 incitemperatur ambien pengoperasian
kelembapan sekitarkelembapan sekitar
5%~80%rh,no kondensasiPaket Transportasi
kotak kartonSpesifikasi
disesuaikanMerek Dagang
kathmatikAsal
CinaFitur utama
Desain terintegrasi 3-in-1, menggabungkan tiga fungsi utama yaitu pemindaian morfologi, sintesis kedalaman ultra-tinggi & penggabungan gambar, serta pengukuran fusi 3D dalam satu perangkat.
Perangkat ini dapat menggantikan beberapa perangkat, termasuk profilometer optik, mikroskop dengan kedalaman bidang ultra-tinggi, alat pengukur kontur, dan mikroskop pengukur, sehingga sangat mengurangi biaya pengadaan peralatan dan ruang.
Menggunakan teknologi pemindaian konfokal spektral laser tanpa kontak fisik dan tekanan selama pengukuran, sehingga mencegah goresan, deformasi, atau kontaminasi pada sampel.
Kompatibel dengan material yang rapuh seperti wafer silikon, lapisan tipis, tembaga berbusa, dan komponen hasil pencetakan 3D untuk melakukan pengujian non-destruktif.
Mampu mengukur kekasaran dalam skala mikrometer, mikro-tekstur dalam skala milimeter, dan toleransi geometris dalam skala meter.
Fitur pemilihan visual baru dengan kamera navigasi global, memungkinkan peralihan bebas antara tampilan navigasi dan tampilan pengukuran, serta pemilihan area pemindaian dengan sekali klik untuk area luas atau area lokal yang kecil.
Desain fokus sinkron untuk lensa pengukur dan lensa laser mendukung fitur anti-tabrakan otomatis, yang secara signifikan mempercepat proses fokus dan meningkatkan efisiensi pengujian secara keseluruhan lebih dari 50%.
Menghasilkan model awan titik 3D dengan warna asli/pseudo-warna, serta memungkinkan ekspor laporan CSV, Excel, PDF, dan data awan titik mentah dengan sekali klik untuk keperluan pelacakan.
Perangkat lunak analisis cerdas terintegrasi dengan berbagai alat pengukuran 2D & 3D, yang mendukung perhitungan batch untuk dimensi planar, profil kontur, perbedaan ketinggian, volume/luas, dan kekasaran permukaan.
Kompatibel dengan berbagai material, termasuk kaca transparan, logam, busa, polimer, wafer semikonduktor, dan keramik.
Profil Perusahaan
BersertifikatJenis Usaha: Produsen/Pabrik & Perusahaan Dagang BersertifikatKapasitas Litbang: Layanan ODM Tersedia BersertifikatOpsi Kustomisasi: Kustomisasi dari Sampel, Kustomisasi dari Desain, etc. BersertifikatPelabuhan Terdekat: Shanghai PortWaktu Respons Rata-rata: ≤8.83h
Tentang Pabrik Kami & Latar Belakang Bisnis
AlamatFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Area Pabrik3580 meter persegi
Jumlah Karyawan294
Modal Terdaftar10,000,000 RMB
Waktu Pengiriman Rata-rataWaktu Pengiriman Puncak Musim: 1-3 bulan, Waktu Pengiriman di Luar Musim, 1-3 bulan
Mitra Rantai Pasokan51
Kapasitas Produksi Kami & Keahlian Teknis
Produk UtamaMikroskop Digital, Mikroskop Optik, 3D Mikroskop, Mikroskop Laser, Profiler, Mikroskopi Konfokal, Interferometer Cahaya Putih, Vibrometer Doppler Laser, Penguji Kekasaran Tanpa Kontak, Vibrometer Doppler
Jalur Produksi4
Mesin ProduksiCNC Centre
Inspektur QA/QC8 people
Jenis Inspeksi untuk Produk Jadi100% inspeksi(Inspeksi visual & Pemeriksaan fungsi)
Metode Pemeriksaan untuk Produk JadiMemiliki instruksi dan diikuti secara seragam
R&D Insinyur56 people
Ketertelusuran Bahan BakuYa
Pengalaman Industri Kami & Catatan Bisnis Global
Pasar UtamaAmerika Utara, Amerika Selatan, Eropa Timur, Asia Tenggara, Afrika, Oceania, Timur Tengah, Asia Timur, Eropa Barat
Produk Baru yang Diluncurkan Tahun LaluYa
Sertifikasi dan Standar Kami & Pengakuan Industri
Sertifikasi Sistem ManajemenISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Lainnya
Produk Q&A
Q:Proyek apa saja yang dapat diuji oleh KC?
A:
Morfologi 3D, panjang/sudut/radius/jarak tengah, kedalaman/tinggi, kontur, kekasaran (Ra/Rz/Sa/Sz), kerataan, volume/luas, deteksi cacat, pembuatan laporan otomatis. Mendukung analisis paralel dari beberapa perangkat, pemindaian dan pemrosesan secara paralel, menggandakan efisiensi.
Q:Sampel apa saja yang dapat diuji oleh KC?
A:
Logam, grafit, wafer, PCB kaca, bantalan tembaga, struktur yang diukir, elektroda baterai, komponen yang diproses dengan peening, permukaan retak, material transparan, material berpori, dan material lunak semuanya dapat diuji. Silakan buat janji untuk kebutuhan pengujian tertentu dan pengujian sampel untuk melihat hasilnya.
Q:Apa perbedaan antara KC dan mikroskop serta profilometer biasa?
A:
Mikroskop biasa hanya dapat mengamati; profilometer mungkin menggores sampel; KC-X3000 adalah sistem pengukuran lengkap untuk morfologi 3D, ukuran, kekasaran, dan kerataan tanpa kontak, dengan akurasi tingkat nanometer dan tanpa merusak sampel.
Q:Apa itu KC-X3000?
A:
KC-X3000 adalah mikroskop pengukur presisi tiga dalam satu yang dikembangkan oleh Kathmatic, yang mengintegrasikan pemindaian morfologi, pengamatan kedalaman bidang ultra, dan pengukuran gabungan. Ia menggunakan teknologi konfokal spektral untuk mencapai pengukuran mikroskopi 3D berpresisi tinggi tanpa kontak.
Q:Mikroskop pengukur presisi tiga dalam satu KC-X3000, fungsi spesifik apa yang dimaksud dengan "tiga dalam satu"?
A:
Perangkat ini mengintegrasikan tiga fungsi inti: pemindaian morfologi, pengamatan kedalaman bidang ultra, dan pengukuran gabungan. Satu perangkat dapat menggantikan profilometer 3D tradisional, mikroskop kedalaman bidang ultra, dan instrumen pengukuran kontur, mencapai operasi observasi, pemindaian, dan pengukuran yang terintegrasi.
Kirim Permintaan
*Untuk:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Konten:
Balasan dari pemasok akan dikirim ke email terdaftar Anda
Anda mungkin juga menyukai
Mikroskop Digital Stereo Multifungsi Jelas Ilmiah untuk Analisis Material
US$65,000.00-73,000.00
1 Atur(MOQ)
Mikroskop Optik Presisi Tinggi untuk Analisis Cacat Wafer Semikonduktor
US$80,000.00-85,000.00
1 Atur(MOQ)
Mikroskop Metalurgi Panggung Ekstra Besar untuk Semikonduktor dan Wafer Bd-Jl2001 280mmx270mm
US$3,000.00-5,000.00
1 sets(MOQ)
Mikroskop Metalurgi Kathmatic Kc-X3000 Mikroskop Kompaun untuk Pengamatan dan 3D Pencitraan Wafer Semikonduktor
US$80,000.00-85,000.00
1 Atur(MOQ)
Mikroskop Laser untuk Membaca Dimensi Pola Mikro Wafer Semikonduktor
US$80,000.00-85,000.00
1 Atur(MOQ)
Mikroskop Metalografi Kelas Digital Rx-50m untuk Inspeksi Cacat Permukaan Wafer Semikonduktor
US$100.00-10,000.00
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Metalurgi Digital Otomatis Penuh untuk Inspeksi Permukaan Wafer Semikonduktor
US$100.00-10,000.00
1 Bagian(MOQ)
Boshida Bd-0655t 6X-55X (Mikroskop Stereo Trinocular Max 330X) untuk Inspeksi Semikonduktor
US$700.00-1,200.00
1 komponen(MOQ)
Mikroskop Stereo Zoom Binokuler BestScope BS-3036A3 untuk Inspeksi dan Analisis Industri
US$915.00
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Inspeksi Stereo Trinocular untuk Semikonduktor (XTF-3022)
Dapat dinegosiasikan
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Inspeksi Stereo Trinocular untuk Semikonduktor (XTZ-3021)
Dapat dinegosiasikan
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Stereo Zoom Lanjutan untuk Penelitian dan Analisis Ilmiah
US$269.00-299.00
1 sets(MOQ)
Mikroskop Inspeksi Stereo Binokular untuk Semikonduktor (XTF-2021)
Dapat dinegosiasikan
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Stereo Zoom Lanjutan untuk Analisis Ilmiah yang Detail
US$310.00-359.00
1 Bagian(MOQ)
Mx-12r Mikroskop Metalurgi Tegak untuk Inspeksi Wafer Semikonduktor Lab
US$100.00-10,000.00
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Metalurgi Kontrol Penuh Listrik Mx-12r untuk Analisis Kegagalan Komponen Elektronik
US$100.00-10,000.00
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Inspeksi Stereo Trinocular untuk Semikonduktor (XTS-3021)
Dapat dinegosiasikan
1 Bagian(MOQ)
Mikroskop Stereo Presisi untuk Kerajinan dan Analisis yang Rumit
US$269.00-299.00
1 sets(MOQ)